标签 > 芯片出厂前，怎么证明它 "没坏 "？—— 一份把 DFT 讲透的硬核讲义 （文后附报告）

芯片出厂之前，想要证明芯片 “没坏”，主流方案就是依靠 DFT 可测试性设计，在芯片设计阶段就提前埋好测试电路，再通过专用测试设备完